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【避坑指南】电容耐压降额裕量不合理导致电容频繁被击穿

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发布时间: 2023-10-27 19:47

正文摘要:

【避坑指南】电容耐压降额裕量不合理导致电容频繁被击穿 MLCC虽然是比较简单的,但是,也是失效率相对较高的一种器件.失效率高:一方面是MLCC结构固有的可靠性问题;另外还有选型问题以及应用问题。由于电容算是 ...

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